Модульная платформа для тестирования пассивных оптических компонентов EXFO CTP10 позволяет работать круглосуточно, например на производстве. Позволяет выполнять измерения прямых (IL) и обратных потерь (RL) с динамическим диапазоном 70 дБ и высокой скоростью и разрешением. CTP10 является идеальным инструментом для характеристики компонентов с высокой емкостью портов, используемых в сетях DWDM и приложениях фотонной интегральной схемы (PIC).
Платформа CTP10 поддерживает до 10 модулей с возможностью «горячей» замены. CTP10 имеет встроенную операционную систему для проведения измерений и обработки больших объемов данных.
Встроенное программное обеспечение предлагает мощный и интуитивно понятный графический интерфейс, отображаемый на двух экранах: один для графического конфигурирования тестовой системы, а другой для отображения и анализа измерений.
Платформа совместима с перестраиваемыми источниками излучения серии EXFO T100S-HP
Ключевые особенности:
- Самая высокая скорость измерения вносимых потерь (IL) и обратных потерь (RL)
- Динамический диапазон 70 дБ при одной развертке с контрастностью 10 000 дБ/нм
- Поддерживает до десяти модулей с возможностью «горячей» замены и до 60 детекторов, работающих с частотой 1 Msps на детектор
- Мощный и интуитивно понятный графический интерфейс
Применение:
Фотонные интегральные схемы
Тестирование пассивных оптических компонентов
Тестирование контрастных устройств с высоким уровнем потерь (селективный переключатель длины волны)
Описание в формате .pdf (EN) 
| 
