Анализатор Синхронизации - FTB-8080СНЯТ С ПРОИЗВОДСТВА
Дата снятия с производства: 2010-05-24
Дата окончания предоставления сервисных услуг: 2015-05-24
Может использоваться как автономный прибор, управляемый удаленно через Ethernet, или управляемый при помощи универсальной тестовой платформы FTB-400.
Анализатор синхронизации FTB-8080 Sync Analyzer – всеобъемлющее решение для оценки, тестирования и поиска неисправностей синхронизации и смещения сигнала (wander), включая графическое отображение TIE, MTIE и TDEV параметров, а также сравнение со стандартами ITU/ANSI/ETS и определенными пользователем шаблонами. ПО Sync View позволит удаленно управлять системой, выводить необходимые данные, производить настройки, а также легко автоматизировать процесс тестирования.
Анализатор FTB-8080 Sync Analyzer позволит избежать наиболее распространенных ошибок при измерении благодаря функциям автоматического детектирования сигнала и автоматической калибровки внутренних рубидиевых часов при подключении опорного сигнала GPS.
Ключевые особенности
Поддержка TIE, MTIE, TDEV, ADEV и FDEV измерений
Измерение дифференциального и абсолютного отклонения (differential and absolute wander) на скоростях передачи от 4 кГц до 52 Мбит/сек (STM-0e/STS-1)
Совместимость с анализаторами SDH FTB-8115/8120/8130 для измерения отклонения вплоть до уровня OC-192/STM-64
Удаленное управление через Ethernet
Портативный 2.048/1.544 МГц генератор часов
Измерения отклонения сигнала (Wander)
FTB-8080 обладает функциональными возможностями для измерения как абсолютного, так и дифференциального смещения сигнала (wander). В первом случае, измеряемый сигнал (часы или данные) сравнивается с максимально стабильными внутренними рубидиевыми «атомными» часами или внешним опорным 10МГц сигналом. Во втором случае, измеряется относительное отклонение (relative wander) между двумя сигналами (к примеру, входящий и исходящий от сетевого элемента сигнал E1). Это позволяет измерять устойчивость отклонения (wander tolerance) и величину «избыточного отклонения» ("extra wander") создаваемого тестируемым устройством.
